原位纳米粒度分析仪

先进的原位纳米粒度分析仪

实时相关和时间分辨纳米粒度测量

设备用途广泛、灵活小巧，可快速准确地进行纳米粒度测量、动力学和过程监控

适用于

1. 实时监控纳米颗粒合成工艺、提高悬浮稳定性等

2. 原位测量(在反应器、高压灭菌器、密封小瓶等装置内部进行测量）

3. 将粒度测量与其他光谱法（ X射线小角散射、小角中子散射、拉曼光谱法、紫外-可见光谱法等）相结合

兼具紧凑性和耐用性

内置技术

1. 高可靠性稳频固体激光器

2. 新一代高灵敏度光子计数器(APD)

1) 更高的灵敏度

2) 极低浓度和/或亚纳米级样品

3. 快速采集计数器和时间分辨相关

1) 连续信号记录；高分辨率和实时相关

紧凑的人体工程学设计

1. 重量轻（＜6 kg），占用空间小

1) 节省实验室空间，便携

2. 光学单元可与控制单元分离

1) OEM 集成，方便搬运和安装

2) 远程探头可根据应用更换

3. 无需预热 -> 可以立即使用

4. 无活动件 -> 可靠，无需维护

独特的原位非接触式远程探头

XASCO Kin远程探头

用于非接触式原位纳米力度检测

1. 原位非接触式测量:无需分批处理，无污染风险占用空间小:易于集成到空间受限的环境中

2. 无源光机械组件:可在恶劣环境(ATEX、手套式操作箱)中工作单模光纤电缆:远程距离为2m至25 m

广泛的高级应用

双夹套玻璃反应器中的原位检测

与自动进样机器人连用后的自动高通量测量

密封小瓶（例如注射器）中的非接触式测量

用户自定义试验装置中的动力学测量

还有很多其他应用！

配备 NanoKin 软件

1. 方便使用的图形用户界面

2. 独特的数据分析功能

1) 用户自定义的动力学分析/时间分辨分析

2) 杂散强度时间滤波

3) 时间切片和力学分析

在一个屏幕上轻松访问所有测量数据（强度、相关图、拟合/残差、粒度分析、累积粒度等）

1. 可定制的报告

2. 一件导出数据和图表

3. 软件远程控制操作：由外部TTL信号触发

4. 自动设置和用户自定义设置（SOP）

1. 独特的二维图表示法

2. 用于快照分析的抓取功能

3. 详尽的溶剂数据库（超过250种溶剂+用户自定义的溶剂）

4. 嵌入式测量模拟器和回放模式

用于纳米粒度分析的高级算法

光学头技术参数